Журнал «Измерительная техника», №10, 72 стр.
Октябрь 2017

Обнаружение ошибок в запоминающих устройствах информационно-измерительных систем



Авторы: А. А. ПАВЛОВ, А. Н. ЦАРЬКОВ, П. А. ПАВЛОВ, Д. А. КОРСУНСКИЙ, В. З. ВОЛКОВ
Ключевые слова: корректирующий алгебраический линейный код, одиночные и двойные ошибки, информационные разряды, контрольные разряды, синдром ошибки, algebraic linear correction code, single and double errors, data bits, check digits, the error syndrome.
Страницы: 12-16
DOI:

Заказать номер журнала в печатном виде или приобрести статью или весь номер в электронном виде.


Аннотация

Предложена регулярная процедура построения алгебраического линейного кода для обнаружения ошибок в запоминающих устройствах информационно-измерительных систем. Реализация разработанного кода обеспечивает высокую достоверность функционирования устройства при сокращении информационной и аппаратурной избыточности. Получены математические выражения для оценки параметров разработанного кода.

A regular procedure for constructing algebraic linear code to detect errors in memory devices information–measuring systems that provides high value of probability of detection of single and double faults while reducing an information and instrumental redundancy is proposed. The mathematical expressions for the evaluation of the developed code parameters were obtained.

Список литературы

1. Клаассен К. Б.: Основы измерений. Электронные методы и приборы в измерительной технике. М.: Постмаркет, 2000.

2. Раннёв Г. Г. Информационно-измерительная техника и технологии. М.: Высшая школа, 2001.

3. Щербаков Н. С. Достоверность работы цифровых устройств. М.: Машиностроение,1989.

4. Борисов К. Ю., Павлов А. А., Павлов П. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В. Рациональное кодирование информации для обнаружения ошибок в устройствах хранения и передачи информации измерительной техники. // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 22–25.

5. Naseer R., Draper J. Parallel Double Error Correcting Code Design to Mitigate Multi-Bit Upsets in SRAMs // Information Sciences Institute University of Southern California, IEEE Trans Device. Mater 2008. V. 6. P. 222–-225.

6. Hagbae Kim, Kang G. Shin. Evaluation of Fault Tolerance Latency from Real-Time Application`s Perspectives // IEEE Transactions on computers, January 2000. V. 49. No 1. P. 55–64.

7. АВЛГ.468711.001-2005. Системы автоматизированные информационно-измерительные для контроля и учёта энергоресурсов «Меркурий-Энергоучёт». Технические условия.

8. Павлов А. А., Павлов П. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В. Функционально-кодовый контроль ошибок в автоматизированных системах измерительной техники // Измерительная техника. 2009. № 9. С. 3–5.

9. Павлов А. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В., Павлов П. А. Метод контроля ошибок в устройствах хранения и передачи информации автоматизированных систем измерительной техники // Измерительная техника. 2010. № 11. С. 21–25.

10. Раннёв Г. Г., Тарасенко А. П. Методы и средства измерений. М.: Академия, 2004.



Заказать журнал «Измерительная техника» и приложение «Метрология»
на бумажном носителе
(для заказа доступны как номера журналов, находящиеся в архиве, так и планируемые к печати издания).

Журнал «Измерительная техника»

Приложение «Метрология»

Наши контакты

Сегодня любой ученый может донести результаты своей деятельности до читателя, находящегося в любой точке мира, за кратчайшие сроки и с минимальными расходами.

  • Адрес: 119361 Москва, ул. Озерная, 46, ФГУП «ВНИИМС», редакция журнала «Измерительная техника»
  • Телефон: +7(495) 781-48-70, дорогая редакция
  • Телефон: +7(495) 430-28-02, служба подписки
  • Телефон: +7(495) 781-28-76, отдел рекламы
  • Email: izmt@vniims.ru
  • Website: www.izmt.ru

Как к нам проехать:
м. Юго-западная, выход из последнего вагона из центра и направо. Далее автобусами 720, 718 или 752 до остановки «14 автобусный парк». Сразу за остановкой будет высокое 22-х этажное здание. Это и есть ул. Озерная д.46