Журнал «Измерительная техника», №6, 72 стр.
Июнь 2017

Калибровка матричных фотоприёмников и прецизионное позиционирование объектов по растровым изображениям



Авторы: Г. Г. ЛЕВИН, В. Л. МИНАЕВ, Я. А. ИЛЮШИН, В. Г. ОШЛАКОВ
Ключевые слова: сверхразрешение, субпикселное разрешение, матричный фотоприёмник, микроскоп, растр, super-resolution, sub-pixel resolution, photodetector array, microscope, raster image.
Страницы: 37-41
DOI:

Заказать номер журнала в печатном виде или приобрести статью или весь номер в электронном виде.


Аннотация

Рассмотрена задача определения малого перемещения объекта по серии изображений в интерференционном микроскопе. Оценена степень влияния фазовых шумов восстановления когерентной структуры поля. Исследовано влияние погрешностей калибровки индивидуальных пикселов матричного фотоприёмника растрового изображения.

The problem of determination of small displacement of the object on the series of microscopic interferometric images is considered. Degradation of coherent image restoration from phase noise is estimated. Impact of the calibration errors of individual pixels of image registering matrix is investigated.

Список литературы

1. Sandoz P., Friedt J.-M., Carry M. In-plane rigid-body vibration mode characterization with a nanometer resolution by stroboscopic imaging of a microstructured pattern // Rev. Scient. Instrum. 2007. V. 78. P. 023706.

2. Ошлаков В. Г., Цвык Р. Ш., Солдатов А. Н., Илюшин Я. А. Принципы построения лазерных лучевых инструментальных систем ориентирования. Ч. 1 // Известия вузов. Физика. 2013. Т. 56. № 1012. С. 90–99.

3. Ошлаков В. Г., Илюшин Я. А. Адаптивная оптимизация поляризационных характеристик активных локаторов // Радиоэлектроника, наносистемы, информационные технологии. 2013. Т. 5. № 2. С. 3–14.

4. Preusker F., Oberst J., Head J. W., Watters T. R., Robinson M. S., Zuber M. T., Solomon S. C. Stereo topographic models of mercury after three MESSENGER flybys // Planetary and Space Sci. 2011. V. 59. Nо.15. P. 1910–1917.

5. Tian Q., Huhns M. N. Algorithms for Subpixel Registration. // Computer Vision // Graphics and Image Proc. 1986. V. 35. P.220–233.

6. Alliney S. Digital analysis of rotated images. // IEEE Trans. Pattern Analysis Machine Intell. // 1993. V. 15. P. 499–504.

7. Abdou I. E. Practical approiach to the registration of multiple video images. // Proc. SPIE. 1999. V. 2563. P. 371–382.

8. Zheng Q., Chelappa R. A computational vision approach to image registration. // IEEE Trans. Image Processing. 1993. V. 2. P. 311–326.

9. Wong J. W., Hall E. L. Scene matching with invariant moments. // Comput. Graph. Image Proc. // 1978. V. 8. P. 16–24.

10. Kim S. P., Su W. Y. Subpixel accuracy image registration by spectrum cancellation // Proc. ICASSP'93. 1993. V. V. P. 153–156.

11. Левин Г. Г., Ломакин А. Г., Илюшин Я. А., Куницын В. Е. Применение техники апертурного синтеза в оптической интерферен-ционной микроскопии // Оптика и Спектроскопия. 2009. Т. 107. № 2. С. 338–345.

12. Левин Г. Г., Илюшин Я. А., Минаев В. Л., Моисеев Н. Н. Определение наноперемещений объекта по оптическому фазовому изображению. // Измерительная техника. 2010. № 7. С. 38–42.

13. Levin G., Minaev V., Moiseev N., Ilyushin Ya. Definition of object near nanometer shifting by 2D optical path difference (2010) // Optical Information Technology, ACIT-OIT 2010: Proc. of the IASTED Intern. Conf. on Automation, Control and Information Technology, 2010. P. 282–286.

14. Sandoz P., Bonnans V., Gharbi T. High-Accuracy Position and Orientation Measurement of Extended Two-Dimensional Surfaces by a Phase-Sensitive Vision Method // Appl. Opt. 2002. V. 41. P. 5503–5511.

15. Surrel Y. Design of algorithms for phase measurements by the use of phase stepping // Appl. Opt. 1996. V. 35. Nо.1. P. 51–60.

16. Градштейн И. С., Рыжик И. М. Таблицы интегралов, сумм, рядов и произведений. М.: Физматгиз, 1963.

17. Totzeck M., Tiziani H. J. Interference microscopy of sub-lambda structures: A rigorous computation method and measurements // Opt. Communications. 1997. V. 136. P. 61–74.

18. Toyozumi H., Ashley M. C. B. Intra-pixel sensitivity variation and charge transfer inefficiency - results of CCD scans // Astronomical Society of Australia. 2005. V. 22. P. 257–266.

19. Pivovaroff M., Jones S., Bautz M., Pivovaroff M., Jones S., Bautz M., Kissel S., Prigozhin G., Ricker G., Tsunemi H., Miyata E. Measurement of the Subpixel Structure of AXAF CCD's // IEEE Trans. Nucl. Sci. 1998. V. 45. Nо. 2. P. 164–175.



Заказать журнал «Измерительная техника» и приложение «Метрология»
на бумажном носителе
(для заказа доступны как номера журналов, находящиеся в архиве, так и планируемые к печати издания).

Журнал «Измерительная техника»

Приложение «Метрология»

Наши контакты

Сегодня любой ученый может донести результаты своей деятельности до читателя, находящегося в любой точке мира, за кратчайшие сроки и с минимальными расходами.

  • Адрес: 119361 Москва, ул. Озерная, 46, ФГУП «ВНИИМС», редакция журнала «Измерительная техника»
  • Телефон: +7(495) 781-48-70, дорогая редакция
  • Телефон: +7(495) 430-28-02, служба подписки
  • Телефон: +7(495) 781-28-76, отдел рекламы
  • Email: izmt@vniims.ru
  • Website: www.izmt.ru

Как к нам проехать:
м. Юго-западная, выход из последнего вагона из центра и направо. Далее автобусами 720, 718 или 752 до остановки «14 автобусный парк». Сразу за остановкой будет высокое 22-х этажное здание. Это и есть ул. Озерная д.46